低氣壓試驗參考標準:
1) G J B 150.2A一2009《軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第二部分低氣壓( 高度) 試驗》;
2) G J B 360B一2009《電子及電氣元件試驗方法方法105低氣壓試驗》( 等效美軍標M IL-STD一202F) ;
3) G J B 548B一2005《微電子器件試驗方法和程序方法1001低氣壓( 高空作業(yè)) 》標M IL-STD一883D);
4) G B2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗總則》;
5) G B/T 2423,21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M 低氣壓試驗方法》;
6) G B/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗方法;
7)G B/T 2423、26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗方法》;
8) G B2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM D 高溫/低氣壓綜合試驗方法》;
9) G B/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程》。


